คำอธิบายโดยละเอียด
เมื่อ ใด ที่ การ ชีลด์ มาตรฐาน ไม่ เพียง พอ?
สาย เซอร์โว มาตรฐาน (การ ครอบ คลุม เปีย 85%) ให้ การ ป้องกัน EMI ที่ มี ประสิทธิภาพ สำหรับ สภาพ แวด ล้อม อุตสาหกรรม ส่วน ใหญ่ รุ่น ชีลด์ เพิ่ม (การ ครอบ คลุม เปีย ≥90%) ถูก ระบุ เมื่อ สภาพ แวด ล้อม แม่เหล็ก ไฟฟ้า เกิน กว่า ที่ การ ชีลด์ มาตรฐาน จะ รับ ได้:
ความ ต่าง ระหว่าง 85% กับ 90%
การ ครอบ คลุม เปีย คือ เปอร์เซ็นต์ ของ พื้น ที่ ผิว สาย ที่ ถูก ครอบ คลุม โดย ลวด เปีย ที่ 85% 15% ของ ผิว เป็น ช่อง ว่าง — ช่อง เปิด รูป ขนมเปียกปูน เล็ก ๆ ระหว่าง ลวด เปีย ช่อง ว่าง เหล่า นี้ ไม่ ใช่ ข้อ บกพร่อง; มัน เป็น เรื่อง ที่ หลีก เลี่ยง ไม่ ได้ ของ กระบวน การ ถัก และ ยอมรับ ได้ สำหรับ สภาพ แวด ล้อม ที่ ความ แกร่ง สนาม EMI ปาน กลาง
ที่ การ ครอบ คลุม 90% พื้น ที่ ช่อง ว่าง ลด ลง เหลือ 10% — การ ลด พื้น ที่ ที่ ไม่ ถูก ครอบ คลุม 33% ช่อง ว่าง ที่ เล็ก กว่า ให้ การ ชีลด์ ดี กว่า ที่ ความถี่ สูง เพราะ มิติ ช่อง ว่าง เข้า ใกล้ ความ ยาว คลื่น ของ สัญญาณ รบกวน ช่อง ว่าง 15% ที่ การ ครอบ คลุม 85% อาจ มี มิติ ใหญ่ ที่สุด 1–2 มม. — ซึ่ง มี ประสิทธิภาพ ถึง ประมาณ 1 กิกะเฮิรตซ์ (ความ ยาว คลื่น 300 มม.) อย่างไร ก็ ตาม ที่ ความถี่ สลับ ของ VFD 4–16 กิโลเฮิรตซ์ เสียง ที่ เกี่ยว ข้อง ไม่ ใช่ ฮาร์โมนิก พื้น ฐาน แต่ เป็น ฮาร์โมนิก — ซึ่ง ยืด ถึง 30–100 เมกะเฮิรตซ์ (ความ ยาว คลื่น 3–10 ม.) ที่ ความถี่ เหล่า นี้ ขนาด ช่อง ว่าง เทียบ ความ ยาว คลื่น มี ความ สำคัญ — จึง เป็น เหตุผล ของ สมรรถนะ ที่ ดี ขึ้น ของ การ ครอบ คลุม 90%
อิมพีแดนซ์ โอน ถ่าย (Z_T) — ตัว วัด เชิง ปริมาณ
เปอร์เซ็นต์ การ ครอบ คลุม เปีย คือ การ วัด เรขาคณิต ทาง สายตา — มัน บอก คุณ ว่า ผิว ถูก ครอบ คลุม เท่า ไร แต่ ไม่ บอก ว่า ชีลด์ ทำงาน ทาง ไฟฟ้า ได้ ดี แค่ ไหน อิมพีแดนซ์ โอน ถ่าย (Z_T) วัด ประสิทธิผล ของ ชีลด์ โดย ตรง:
- ใช้ แรงดัน ระหว่าง ชีลด์ และ ตัวนำ กลับ ที่ ปลาย หนึ่ง
- วัด แรงดัน ที่ เหนี่ยวนำ บน ตัวนำ ภาย ใน ชีลด์ ที่ ปลาย อีก ด้าน หนึ่ง
- Z_T = แรงดัน เหนี่ยวนำ / กระแส ชีลด์ × ความ ยาว สาย (หน่วย: โอห์ม/ม. หรือ มิลลิโอห์ม/ม.)
- Z_T ต่ำ กว่า = ชีลด์ ดี กว่า
เมื่อ ใด ควร ระบุ ชีลด์ เพิ่ม
| สภาพ แวด ล้อม | ชีลด์ มาตรฐาน (85%) | ชีลด์ เพิ่ม (90%) |
|---|---|---|
| แกน เซอร์โว เดี่ยว, สาย แยก จาก สาย กำลัง | เพียง พอ | เผื่อ เกิน ไป |
| เครื่องจักร หลาย แกน, สาย เซอร์โว 3–6 เส้น ใน โซ่ลาก เดียว | กำกวม (เสี่ยง ครอสทอล์ก) | แนะ นำ |
| สาย เซอร์โว ใน โซ่ลาก เดียว กับ สาย กำลัง มอเตอร์ | กำกวม | แนะ นำ |
| เครื่อง CNC ที่ มี ไดรฟ์ แกน หมุน VFD 15+ กิโลวัตต์ ใกล้ เคียง | ไม่ แนะ นำ | แนะ นำ |
| เซลล์ เชื่อม — EMI อาร์ก เชื่อม (บรอดแบนด์ ถึง 100 เมกะเฮิรตซ์) | ไม่ แนะ นำ | ต้อง ใช้ |
| การ ตัด พลาสม่า — อาร์ก ความถี่ สูง | ไม่ แนะ นำ | ต้อง ใช้ |
ส่วน ต่าง ต้น ทุน ของ การ ครอบ คลุม เปีย 90% เทียบ 85% คือ ประมาณ 10–15% ใน สภาพ แวด ล้อม เสียง รบกวน สูง ที่ เอนโคเดอร์ ฟอลต์ เดียว หยุด การ ผลิต ส่วน ต่าง นี้ ไม่ มี นัย สำคัญ เมื่อ เทียบ กับ ต้น ทุน เวลา หยุด เครื่อง
การ ผลิต ชีลด์ เพิ่ม ของ Yichi
- วัด อิมพีแดนซ์ โอน ถ่าย บน การ ออก แบบ ใหม่: Z_T ตาม IEC 62153-4-3 (วิธี ไตรแอกเชียล) ถูก วัด บน ทุก การ ออก แบบ สาย ใหม่ เป็น ส่วน หนึ่ง ของ กระบวน การ รับรอง สิ่ง นี้ ให้ ตัว ชี้ วัด สมรรถนะ ชีลด์ เชิง ปริมาณ — ไม่ ใช่ แค่ การ ตรวจ สอบ การ ครอบ คลุม ด้วย สายตา
- ควบคุม ความ ต้าน ลวด เปีย: ความ ต้าน DC ลวด เปีย ถูก วัด บน ตัวอย่าง การ ผลิต ความ ต้าน ต่ำ กว่า = การ ชีลด์ ความถี่ ต่ำ ดี กว่า โลหะ ผสม ลวด เปีย (ทองแดง ชุบ ดีบุก) และ เส้น ผ่าน ศูนย์กลาง ลวด ถูก ระบุ สำหรับ ความ ต้าน เปีย โดย รวม ≤10 โอห์ม/กม.
- ตรวจ สอบ การ ครอบ คลุม เปีย: การ วิเคราะห์ ภาพ ด้วย ทาง แสง บน ตัวอย่าง การ ผลิต — ≥90% คือ เกณฑ์ ยอม รับ การ วัด ด้วย สายตา คือ การ ตรวจ คุณภาพ การ ผลิต; การ วัด Z_T คือ การ ทดสอบ รับรอง การ ออก แบบ
- ทดสอบ ความ ต่อ เนื่อง ชีลด์ ครบ ปลาย ถึง ปลาย: ทุก ความ ยาว การ ผลิต ถูก ทดสอบ ความ ต่อ เนื่อง ไฟฟ้า ของ ชีลด์ วงจร เปิด ที่ ใด ก็ ตาม ใน เปีย สร้าง ช่วง สาย ที่ ไม่ มี การ ชีลด์